X射线荧光光谱仪（XRF）
粉末样品需要至少10g；
样品在测试之前尽量干燥，WDXRF的样品熔点需>140℃；
由于受XRF光管Rh靶的影响，如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。
非粉末样品等特殊需求，有任何问题，请联系业务经理。
熔片法：制样精密度好；均匀性好，样品要求高；不可用熔片法测试的样品：Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质，若隐瞒样品成分会损坏仪器无法测试。
项目简介：
1.EDXRF可测元素范围：Na~U;
2.WDXRF可测元素范围：C~U;
制样方法：压片、滤纸法
结果模式：元素、氧化物、元素+氧化物三种形式。
对样品中元素进行定性半定量分析，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。
样品要求：
样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品。
粉末样品：粉末样品需要至少10g ，样品在测试之前尽量干燥，200目以下；
块状、薄膜样品：块状样品必须有一边大于3 cm，标明测试面（表面光滑平整）。
膏状、液体样品需准备5mL及以上。
