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    1. 粉末样品需要至少10g;

    2. 样品在测试之前尽量干燥,WDXRF的样品熔点需>140℃;

    3. 由于受XRF光管Rh靶的影响,如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。

    4. 非粉末样品等特殊需求,有任何问题,请联系业务经理。

    5. 熔片法:制样精密度好;均匀性好,样品要求高;不可用熔片法测试的样品:Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质,若隐瞒样品成分会损坏仪器无法测试。

    报告默认无样品照片,如报告中需样品照片,请下单备注。

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商品描述
  1. 粉末样品需要至少10g;

  2. 样品在测试之前尽量干燥,WDXRF的样品熔点需>140℃;

  3. 由于受XRF光管Rh靶的影响,如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。

  4. 非粉末样品等特殊需求,有任何问题,请联系业务经理。

  5. 熔片法:制样精密度好;均匀性好,样品要求高;不可用熔片法测试的样品:Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质,若隐瞒样品成分会损坏仪器无法测试。

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